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森林 健悟; 香川 貴司*; Kim, D. E.*
Journal of Physics B; Atomic, Molecular and Optical Physics, 38(13), p.2187 - 2194, 2005/07
被引用回数：6 パーセンタイル：31.21(Optics)2つの短パルスX線を
tの時間間隔だけあけてSi原子に照射し内殻励起,多重内殻励起からのX線数の計算を行った。多重内殻励起の生成は、多X線吸収、すなわち、X線非線形過程で生じることを用いて2つのX線パルスの重なりによるX線数の違いからパルス幅の測定ができる可能性を探った。200fsのX線パルスの場合、理論上、この方法で正確にパルス幅の測定ができるが、20fsパルスでは、100%以上の誤差が生じた。これは、内殻励起状態の寿命(25fs程度)がX線パルスと同程度であったためと予想される。すなわち、1つめのパルスで生成した(多重)内殻励起状態が2つのパルスが到着しても残っていれば、それが内殻電離を起こし、多重内殻励起状態からのX線数を増やすためであると考えられる。そこで、自動イオン化の時定数を1fs, 10fsとした場合のパルス測定の精度を計算した。20, 50, 80fsのX線パルス幅に対して、自動イオン化の時定数が1fsの場合は、この方法で正確な値を導くことができたが、自動イオン化の時定数が10fsになると算出した値は、それぞれ、28, 55, 80fsとなった。すなわち、この方法では、X線パルス幅よりも短い時定数の自動イオン化状態を持つ標的を取り扱う必要があることが明らかとなった。
大図 章; 伊藤 和範*
Journal of Applied Physics, 93(12), p.9477 - 9482, 2003/00
被引用回数：5 パーセンタイル：24.25(Physics, Applied)レーザー誘起真空スパーク放電における硬X線発生に関する実験研究を行った。スパーク放電は、間隔1cmのピン電極の陽極側にレーザー光を照射し予備電離金プラズマを生成させマルクス電源により高電圧パルスを印加してX線を発生させるものである。充電電圧150kVでレーザープラズマ生成と同時に放電を開始させたところ、高い強度(~10mR/パルス)の硬X線パルスが観測された。そのX線パルスは、パルス前半に現れる約20nsの短いパルスと後半に現れる長い400nsのパルスで構成されていることがわかった。それらの実効X線素子光子エネルギーは、それぞれ150と80keV程度であった。この放電によるX線発生特性は、放電電圧,入射レーザーエネルギー、及び放電とレーザー光入射のタイミングに大きく依存した。これらの結果をもとにX線発生のメカニズムに関する考察を行った。
上坂 充*; 小瀧 秀行; 中島 一久; 原野 英樹*; 木下 健一*; 渡部 貴宏*; 上田 徹*; 吉井 康司*; 神門 正城; 出羽 英紀; et al.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 455(1), p.90 - 98, 2000/11
被引用回数：36 パーセンタイル：88.96(Instruments & Instrumentation)直線加速器-レーザー同期システムを使った、フェムト秒X線パルスの発生と応用を行った。240フェムト秒17MeV電子パルスと100フェムト秒3TW Ti:Sapphireレーザーパルスとを、3.5psでの同期に成功した。この技術を使い、90°及び180°でのエレクトロン-レーザーでのトムソン散乱により、フェムト秒X線パルスの発生を行った。さらに、単結晶において、原子振動の動画像化のため、時間分解X線回折を行った。ここでは、10ピコ秒の電子ビームを100
mの銅のワイヤーに照射して発生したピコ秒のX線を使用した。これにより、銅のK
線のX線回折パターンを得ることができた。
大図 章; 伊藤 和範*; 的場 徹; 河西 俊一; 有澤 孝
Review of Scientific Instruments, 70(9), p.3776 - 3777, 1999/09
被引用回数：1 パーセンタイル：20.55(Instruments & Instrumentation)従来の技術では、連続的なエネルギー分布を有するX線パルスの平均光子エネルギーを1回の測定では求めることはできない。これを求めるには吸収体の厚みを変えてX線パルスを何回も計測して減衰曲線の傾きを求めなければならない。したがって繰り返してX線パルスの発生が容易でない場合、多くの時間、手間を必要とする。これを克服するために、MOSリニアセンサー、シンチレータ付ファイバープレート及び連続的な厚みを持つ吸収体等からなる計測システムを開発した。本システムでは、1回の計測で精度の良い減衰曲線が得られ、X線パルスの平均光子エネルギーを簡単に求めることができた。これにより、これまで必要だった多くの計測時間、作業とX線パルスの発生を大幅に省略することができた。
